内容简介
《小角X射线散射:理论、测试、计算及应用》系统、全面地介绍了小角X射线散射理论、测试方法、数据处理和应用。内容包括：小角X射线散射理论，如X射线的基本性质、散射的基本原理、稀疏体系中各种形状粒子的散射公式、稠密体系中粒子之间的散射干涉现象、从统计理论描述各种体系的散射、界面层厚度的计算以及热漫散射（即背景散射）等；仪器装置、测试方法和数据处理，有关参数的计算方法；小角X射线散射在各领域研究中的应用实例以及如何从散射曲线中获取形态特征和结构信息。《小角X射线散射:理论、测试、计算及应用》可作为高等院校材料科学、生物科学等专业的高年级本科生和研究生的选修课教学用书，也可供从事X射线衍射和小角X射线散射方面研究的科研人员参考。
20世纪30年代初，Krishnamurti、Mark、Hendricks和Warren用X射线观察炭粉、纤维素和胶体粉末时，发现了小角区域的漫散射现象。此后，Guinier、Fourent、Debye、Porod和Kratky等人相继提出、建立和发展了小角X射线散射理论，由此诞生了独立于X射线衍射学的一个崭新方法——小角X射线散射。小角X射线散射现已发展成为研究亚微观结构和形态特征的一种技术和手段，被广泛应用于聚合物、生物大分子、凝聚态物理和材料科学等学科，研究的领域涉及合金、悬浮液、乳液、胶体、高分子溶液、天然大分子、液晶、薄膜、聚电解质、复合物、纳米材料和分形等。在发达国家，已把小角X射线散射用于在线测试，作为监控产品质量的一种常用工具。关于小角X射线散射的专著，最早并最为经典的是1955年由Guinier和Fourent撰写的《SmallA...
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