作品简介

本书以数学为工具,以器件数据手册里的参数为基础,从电路故障的本质机理(电压容限、过渡过程等)、成因(高频特性、分布参数等)、参数计算公式等方面展开讲解。全书共分为5章,分别是电子工程数学基础、系统设计通用计算技术、分立元器件应用计算、集成元器件应用计算和电子产品统计过程控制(SPC)。

本书的特点是理论与实践有机结合,适合从事电子产品设计的各类工程、科研、教学等专业技术人才学习。

武晔卿,瑞迪航科(北京)技术有限公司总经理,船载同步轨道卫星天线稳定跟踪系统项目经理,主任设计师;麻醉机、呼吸机、输注泵研发总监。出版著作:《嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析》北航出版社;《电子电路设计伴侣》机械出版社。

作品目录

  • 内容简介
  • 序言
  • 前言
  • 第1章 电子工程数学基础
  • 1.1 基础代数应用
  • 1.2  三角函数应用
  • 1.3  微积分应用
  • 1.4  复变函数
  • 1.5  泰勒级数
  • 1.6  傅里叶级数与傅里叶变换
  • 1.7  统计过程控制与正态分布
  • 1.8  PID控制数学基础
  • 1.9  电路设计机理
  • 第2章 系统设计通用计算技术
  • 2.1  应力计算
  • 2.2  降额
  • 2.3  热设计计算
  • 2.4  精度分配
  • 2.5  可靠性量化评估
  • 2.6  阻抗匹配
  • 2.7  蒙特卡罗分析方法
  • 第3章 分立元器件应用计算
  • 3.1  电阻
  • 3.2  电容
  • 3.3  电感
  • 3.4  磁珠
  • 3.5  插头插座
  • 3.6  导线
  • 3.7  保险丝
  • 3.8  TVS
  • 3.9  压敏电阻
  • 3.10  气体放电管
  • 3.11  散热片
  • 3.12  风扇
  • 3.13  晶体振荡器
  • 3.14  二极管
  • 第4章 集成元器件应用计算
  • 4.1 数字IC
  • 4.2  A/D转换器
  • 4.3  运算放大器
  • 4.4  电源滤波器
  • 4.5  传感器
  • 4.6  LDO电源模块
  • 4.7  功率开关管
  • 4.8  软件计算
  • 第5章 电子产品统计过程控制(SPC)
  • 5.1  选点及数据采集
  • 5.2  控制图的制作
  • 5.3  过程能力指数的计算
  • 5.4  统计控制状态
  • 附录A 过程能力指数与不合格率的关系表
  • 附录B 过程能力指数Cp值的评价参考表
  • 附录C SPC统计过程控制实例
  • 反侵权盗版声明
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